オムロンは半導体の検査で照射されるX線の量を3次元（3D）で可視化する技術を開発した。米エヌビディアの仮想空間を使い、基板上の凹凸なども考慮して照射された量をヒートマップで表示する。量産で求められる最適な照射量がわかりやすくなることで検査の効率化につなげる。半導体のX線検査装置は、チップとパッケージ基板をつなぐはんだが正しく接続できているかやチップ間の距離を調べる。オムロンは2008年に3Dに ...

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